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BDPA - Bases de Dados da Pesquisa Agropecuária Embrapa
 






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Biblioteca(s):  Embrapa Florestas.
Data corrente:  04/02/2009
Data da última atualização:  19/07/2011
Tipo da produção científica:  Artigo em Periódico Indexado
Autoria:  RESENDE, M. D. V. de; LOPES, P. S.; SILVA, R. L. da; PIRES, I. E.
Afiliação:  Marcos Deon Vilela de Resende, Embrapa Florestas; Paulo Sávio Lopes, Universidade Federal de Viçosa; Rogério Luíz da Silva, Universidade Federal de Viçosa; Ismael Eleotério Pires, Universidade Federal de Viçosa.
Título:  Seleção genômica ampla (GWS) e maximização da eficiência do melhoramento genético.
Ano de publicação:  2008
Fonte/Imprenta:  Pesquisa Florestal Brasileira, Colombo, n. 56, p. 63-77, jan./jun. 2008.
Idioma:  Português
Conteúdo:  A seleção genética tem sido praticada pelo procedimento BLUP, usando dados fenotípicos avaliados a campo. Uma primeira proposição realizada para aumentar a eficiência desse procedimento, baseado em dados fenotípicos, foi a seleção auxiliada por marcadores (MAS) moleculares, a qual usa simultaneamente dados fenotípicos e moleculares. Posteriormente, foi proposto um novo método de seleção denominado seleção genômica ampla (genome wide selection ? GWS), o qual apresenta alta acurácia seletiva para a seleção, baseada exclusivamente em marcadores, após terem seus efeitos genéticos estimados a partir de dados fenotípicos em uma amostra da população de seleção. A GWS é excelente para caracteres de baixa herdabilidade, ao contrário da MAS, que não é útil para caracteres de baixa herdabilidade. O presente trabalho tem como objetivos apresentar a metodologia GWS e simular um caso de aplicação da mesma, visando enfatizar as suas vantagens sobre a MAS. Objetiva também demonstrar a relação entre o BLUP tradicional e o BLUP genômico associado à GWS. Adicionalmente, discute aspectos referentes ao tamanho amostral adequado para estimação dos efeitos genotípicos dos marcadores. Os resultados revelam que a GWS poderá ter grande utilidade ao melhoramento genético. No entanto, é preciso adquirir experiência prática com a GWS, visando inferir sobre sua efetividade.
Palavras-Chave:  Análise de desequilíbrio de ligação; Mapeamento fino; Seleção genômica.
Thesagro:  Marcador Molecular.
Categoria do assunto:  --
URL:  https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/CNPF-2009-09/44392/1/6_Deon.pdf
Marc:  Mostrar Marc Completo
Registro original:  Embrapa Florestas (CNPF)
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CNPF44392 - 1UMTAP - --
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1.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Application of atomic force spectroscopy (AFS) to studies of adhesion phenomena: a review. Journal of Adhesion Science and Technology, Utrecht, v. 19, n. 3-5, p. 365-405, 2005.
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2.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.
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3.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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4.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JUNIOR, A.; HERRMANN. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). In: DRELICH, J.; MITTAL, K. L. (Ed.). Atomic force microscopy in adhesion studies. Leiden-Boston: VSP, 2005. p. 625-640.
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5.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JÚNIOR, A.; HERRMANN, P. S. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). Journal of adhesion Science and Technology, v. 17, n. 16, p. 2141-2156, 2003.
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6.Imagem marcado/desmarcadoMATUURA, T. B.; LEITE, F. L.; BERNARDES FILHO, R. Wheat gluten analysis by atomic force microscopy Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, 2003. Supplement A CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 3 f. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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7.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
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8.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Adhesion phenomenon on clay minerals studied by atomic force spectroscopy (AFS). In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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9.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors. Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.
Tipo: Artigo em Periódico IndexadoCirculação/Nível: A - 1
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10.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. The atomic force spectroscopy as a tool to investigate surface forces: basic principles and applications. In: MÉNDEZ-VILA, A.; DÍAZ, J. (Ed.). Modern research and education topics in microscopy. Badajoz: Formatex, 2007. p. 747-757.
Tipo: Capítulo em Livro Técnico-Científico
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11.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P. Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.
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12.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006.
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13.Imagem marcado/desmarcadoPIZZOLATO, P.; FIRMINO, A.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; VAZ, C. M. P. Caracterização de filmes de PEDOT/PSS para aplicação em sensores interdigitados. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 16., Porto Alegre, 2004. Anais... Porto Alegre, 2004.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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14.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso
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15.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR. O. N.; MATTOSO, L. H. C. Highly sensitive sensor arrays of chrome electrodes for tste sensors. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.
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16.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso
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17.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; LEITE, F. L.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C. Microcantilever used in atomic force microscopy, as a toolbox to biotechnology In: ANNUAL MEETING FOR BRAZILIAN SOCIETY FOR BIOCHEMISTRY AND MOLECULAR BIOLOGY - SBBq, 41., Foz do Iguaçú, Brasil. Resumos... Foz do Iguaçu: SBBq, 2012. não paginado.
Tipo: Resumo em Anais de Congresso
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18.Imagem marcado/desmarcadoSOUZA, A. L.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; RODRIGUES FILHO, U. P. Tailoring silicon surfaces aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid hybrid films. In: WOKSHOP DA PÓS-GRADUAÇAO, 9.; 2005, São Carlos. A contribuição do IQSC para a inovação e o desenvolvimento científico e tecnológico. Resumos... São Carlos: IQSC, 2005. p. 152.
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19.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.
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20.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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